挣扎着具有挑战性的样品？
不确定该如何处理“设置”菜单？
加入我们，因为我们提供了一些有用的建议，以最大程度地提高您的SEM成像和分析生产力。了解如何获得最佳图像质量以及如何通过自动分析节省时间3月25日，星期三在我们的现场网络研讨会上。
应用程序科学家詹姆斯·斯坦菲尔（James Stanfill）博士将提供一些使用您的现象桌面SEM的有用技巧，包括：
- 使用高级菜单来设置加速电压和光束污名
- 为不同的检测器类型和真空模式设置操作条件
- 您什么时候应该使用“低”，“图像”，“点”和“地图”？
- 如何通过自动分析节省时间：仪器上可用的不同软件的提示
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