相关光镜和电子显微镜(CLEM)是荧光显微镜和高分辨率的结合扫描电子显微镜(SEM)。荧光显微镜(LM)用于监测样品中的动态事件，但缺乏分辨率和背景，无法在超微结构水平上获得细节。扫描电镜提供细胞器和突触的高分辨率图像，但不能提供特定时间或动态信息。荧光成像的标记能力和电子显微镜的高分辨率结构信息的结合，使相关显微镜成为研究生物学中复杂的形态与功能关系的理想工具。利用一种独特的相关方法，将这两种方法快速准确地结合在一起。在几秒钟内，从LM和SEM的数据集覆盖到高精度。
集成的荧光扫描电镜系统简化了工作流程，并提供了微观技术之间的无缝切换。SECOM系统提供了一个完全自动化覆盖，精度优于50纳米。
