Phenom XL桌面扫描电镜,带ParticleX软件
自动EDS+粒子分析
及时准确的质量控制是当今制造业的先决条件。热科学商标Phenom Particle X Desktop SEM是用于高质量分析的多功能内部解决方案。通过集成的粒度测定和EDS自动测定和识别元素成分。使您能够对材料进行分析、验证和分类,以准确可靠的数据快速支持您的生产。
Phenom XL台式SEM在台式SEM平台上配备了最快的通风/加载循环和最大的样品台。结合紧凑的尺寸和快速、准确的分期,Phenom XL桌面扫描电镜和ParticleX软件设计用于高通量样品分析。
Phenom ParticleX Desktop SEM操作简单,学习速度快,允许您在内部培训多个用户,以获取解决问题所需的数据。易于使用和自动化使您能够从实验室的其他SEM中卸载样本分析。
特征
Phenom ParticleX桌面扫描电镜是专为添加剂行业金属粉末的微尺度颗粒分析和技术清洁度VDA19规范或ISO 16188金宝搏app安卓下载232汽车行业标准的专门应用而设计的。具有任何桌面SEM的最大的样品阶段,同时保持原有的天工异彩平台的所有优势。
- 最快的排气/加载循环,实现高通量
- 机动XY样品台
- 彩色光学相机的点击导航
- 电荷减少模式减少了对样品的涂层需求
- 元素分析EDS/EDX选项
- 二次电子探测器选件
- 小脚印
- 不需要基础设施
自动能量色散X射线光谱(EDS)和粒子分析
完全集成的EDS探测器,带有用于颗粒元素识别(EID)的专用软件包。分析和成像齐头并进,使用户能够识别周期表上几乎所有的材料,从硼到镅。实时映射EID软件运行具有高级峰值分析的智能算法,以优化自动识别,同时仍允许用户手动调整。该软件直观的一步一步的过程帮助用户以一种有组织、有条理的方式收集所有X射线结果。
规格
类别 | Phenom ParticleX桌面扫描电镜规格 |
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光学导航摄像机 | 3 - 16倍放大;彩色图像;亮场和暗场照明 |
扫描电镜放大 | 最大10万倍 |
决议 | <14纳米 |
光光学 | 亮场/暗场模式 |
电子光学 |
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加速电压 | 4.8-20千伏 |
真空模式 | 高、中、低真空 |
探测器 | BSD EDS SED(可选) |
样本大小 | 最大100毫米x100毫米 高达30 x 12 mm的销头 |
样本高度 | 最大65毫米 |
更多信息 | 扫描电子显微镜模型的比较 |