校正接触角

校正的接触角 - 现实样本中的地形如何影响您的测量

接触角测量广泛用于研究,生产和质量控制领域。关于这些测量的理论和意义的背景提供了接触角焦管测量 - 张力页面。杨氏的杨氏接触角,通常是文献中报告的值,假设一种理想的表面,其不含粗糙度,污染物,化学异质性或与探针液体的相互作用。在大多数现实生活中,可能违反其中一个或多个这些假设。特别地,粗糙度具有对接触角的众所周知的影响,其中粗糙度的增加趋于增强材料的现有性质。对于了解涂层,塑料或陶瓷的基本性质的研究,这些粗糙度效应可能是不需要的,并且可以涂布真实材料特性的不准确图像。

1936年,Robert Wenzel在杨氏接触角,表面粗糙度和矫正接触角之间形成了关系[1]:

(1)

其中θm是测量的接触角,θy是杨氏接触角,R是:

(2)

S.博士被定义为表面积的额外百分比,该表面粗糙度贡献,并且可以使用诸如型材计或原子力显微镜的装置测量。S.博士完全平坦的表面为0.其计算值25178 [2]是:

(3)

其中A是定义区域。

包含接触角测筒仪和轮廓仪的集成系统可能会执行两个博士在样品上的完全相同点上的测量和接触角。Theta Flex的形貌是一种这样的仪器。通过使用自动XYZ阶段,仪器可以在进行地形测量的情况下精确地移动,并且放置接触角液滴的位置。

图1 - 具有地形综合接触角和地形测量系统的THETA柔性

地形模块利用条纹投影相移方法,其中投影仪在样品上产生正弦条纹图案,并且用相机捕获条纹的移动。仪器设置如图2所示。在该系统中,SinUnoidal Ringes可以通过方程描述:

(4)

其中x、y为位置坐标,a为背景强度,b为振幅调制,p为正弦光栅波长,ϕ0.是由于表面高度引起的相移,以及δN是相移从滑动运动。每个像素的强度作为高度的函数而变化,使用软件算法,地形信息,如S博士,Root指平方(RMS)粗糙度,平均高度,最小和最大高度,以及其他参数可以在2D和3D中确定。有关边缘投影迁移方法的更多细节可以从张和Peisen找到[3]。

条纹投影相移测量原理图 来自边缘投影相移测量的光学表面
图2 -条纹投影相移测量及其相应的光学表面的原理图

一旦S.博士,修正接触角,即杨氏接触角θy可以通过公式(1)和(2)来确定。这使得人们可以确定接触角以及相关信息,如完美平面样品的表面自由能。这些信息对于材料和涂层的基本理解至关重要。


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