的Delmic西科姆提供速度和准确性相关的光镜和电子显微镜(CLEM)研究从来都是不可能的。SECOM与您的高分辨率扫描电子显微镜(SEM)无缝集成，在电子显微镜和光学显微镜之间的数据在几秒钟内关联。点击一个按钮，数据集覆盖与大于50 nm的相关精度，实现再现性和无偏置结果。
来自Delmic的SECOM提供
- 无缝集成与您的SEM:兼容所有主要品牌的SEM’s
- 50 nm相关精度:使用专有技术，数据集在几秒内就可以覆盖
- 自动对齐步骤:在所需位置直接成像
- 高质量的光学显微镜:高钠物镜与空气、水和油的实验兼容
- 多个荧光通道:四个标准频道，可选择添加自定义波长
- 超分辨率能力:配备STORM显微镜，20 nm分辨率(可选)