用扫描电子显微镜(SEM)进行颗粒分析和表征
了解干粉物料中颗粒的物理特性是药品开发的一个重要方面。辅料的任一活性药物成分(api)的粒径分布通常对产品性能和可制造性有显著影响。扫描电子显微镜被越来越多地用于研究颗粒的大小，形貌和化学成分。
的杰出人才台式扫描电镜包括几个特点，使其成为研究药物颗粒的自然选择:
- 后向散射电子检测加上自动图像采集允许极高的吞吐量数据采集和基于疯牛病信号的定量颗粒大小。
- 高亮度的六硼化铈源产生无与伦比的图像质量，同时保持极长的寿命。
- 集成EDS探测器与绘图，使快速测定粒子组成。
两种类型的探测器通常用于生成SEM图像:后向散射电子(BSE)探测器和二次电子(SE)探测器。BSE探测器对于这个应用程序的关键好处是，不同平均原子序数的粒子将在生成的图像中显示不同的亮度。这使得从不同颗粒(如辅料混合物)的混合物中明确地确定单个和整体颗粒的特性。
一种赋形剂混合物的自动粒子表征
天工异彩扫描电子显微镜被编程自动获取图像马赛克，然后识别和测量每个单独的粒子使用Particlemetric软件下图最初是在5.3 x 3.6 mm的区域上获得的，像素分辨率为500 nm。
定量图像处理测量粒径分布
通过灰度分离不同的材料，然后绘制关键特性。图中深灰色的颗粒尺寸分布较广，平均圆当量直径为35±31 μ m。轻颗粒的平均圆当量直径为80±31 μ m，约束更严格。完成自动采集和后处理的总时间不到20分钟，共识别和测量了3000多个颗粒。