陶瓷通常具有影响材料性能的晶粒尺寸和微观结构。扫描电子显微镜利用扫描电镜(SEM)图像对晶粒尺寸和分布进行量化。根据特定的产品要求，陶瓷加工参数可以优化晶粒边界和微观组织。
陶瓷晶粒尺寸和覆盖率
背向散射电子探测器(BSD)图像，就像下面的先进陶瓷加热元件材料，固有地提供了材料对比度。这使得对陶瓷材料的扫描电镜图像的阈值和分析可以很容易地确定晶粒尺寸和面积。
许多陶瓷材料需要烧结以产生所需的机械性能。利用BSD扫描电镜图像可以量化晶粒尺寸和覆盖率。使用自动图像映射与Phenom SEM，数据采集可以自动化最大的工作流程与统计分析。
这是一张由30张SEM图片组成的平铺图片(左下)。总的采集时间不到3分钟。然后使用阈值效应对平铺图像进行分析，如下图所示，表示该陶瓷样品为5%黑色，78%灰色和17%白色。利用颗粒分布数据可优化加工条件，满足产品要求。
