检查AFM尖端成像设备

为什么要描述你的AFM技巧?

当在AFM中成像一个新样品时，可能很难知道你是否获得了表面的准确表示。即使当一个样本已经被很好地表征，评估探针尖端对图像的影响的独立方法是可取的。

探针尖端破损或变形会导致样品渲染不准确。从本来就很忙的日程表中抽出的额外时间可能会被消耗在进一步的澄清工作中，否则根本不需要这些澄清工作。更糟糕的是，如果尖端损坏没有被发现，你的样品的真实地形性质可能会在不经意间被忽视。

使用显微镜技术(如扫描电镜)来观察针尖的破损既不方便，也不经济，不适合常规操作。

一个简单，方便的方法来预选您所有的AFM技巧当然是可取的!因此，您可以节省时间和精力，并避免挫折。幸运的是，有一种简单有效的方法可以预先筛选你的提示，也可以评估使用过的提示。

为什么TipCheck ?

快

TipCheck利用反向成像提供了一种快速和简单的方法来评估新的和使用的小费，而不需要扫描电镜检查。

准确的

TipCheck薄膜的微观结构对于检测尖端尖端附近的尖端形态是理想的。

方便

该薄膜由一个硅晶片提供，可以放置在AFM中。提供的说明与图像示例，以帮助您开始使用自己的示例库。

一个完整的解决方案

通过结合TipCheck示例和SPIP软件，你有一个交钥匙解决方案，正确分析你的AFM数据。